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“QFN三温老化座”参数说明
“QFN三温老化座”详细介绍
QFN8三温测试座根据客户提供的DFN芯片参数来设计测试座，会根据他的频率和温度要求来采用接地探针的数量，DFN8三温测试座特点及性能参数：
◆采用手动翻盖式结构，操作方便；
◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
◆采用探针稳定，接触可靠
◆高精度的定位槽，保证IC定位精确，测试效率高；
◆测试准确性高，大大减少误判率；
◆采用进口双头针，探针可更换，维修方便，成本低；
◆绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框铝合金材料制作；
◆测试频率可达1066M Hz；
◆温度范围-55度~165度？
◆测试寿命长，有效测试10万次以上；
◆可以免费提供相关的技术支持。
产品服务：
※半年免费保修（人为损坏除外）。
※保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※可以免费提供相关的技术支持。
客户提供DFN芯片，就可以定做，另客户提供产品或者测试板，可给您做成治具
◆采用手动翻盖式结构，操作方便；
◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
◆采用探针稳定，接触可靠
◆高精度的定位槽，保证IC定位精确，测试效率高；
◆测试准确性高，大大减少误判率；
◆采用进口双头针，探针可更换，维修方便，成本低；
◆绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框铝合金材料制作；
◆测试频率可达1066M Hz；
◆温度范围-55度~165度？
◆测试寿命长，有效测试10万次以上；
◆可以免费提供相关的技术支持。
产品服务：
※半年免费保修（人为损坏除外）。
※保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※可以免费提供相关的技术支持。
客户提供DFN芯片，就可以定做，另客户提供产品或者测试板，可给您做成治具
